- optel-texys 用于非接触式动态扭矩计算的独立工具 / 基于使用光纤传感器的扭转角测量 / 非侵入式,易于安装,可在 EMC 和 ATEX 环境中作
- optel-texys 传感器通道分线盒
- optel-texys 用于简化和经济地测量循环平稳现象、失循环、滑移、扭转振动、弯曲、扭矩、角速度变化。 当您要诊断的旋转部件不能包括精密的发声轮或机械加工和对比标记或自然载体(如孔、齿、直接雕刻)
- optel-texys 光纤探头
- optel-texys 传感器 测速、非循环、扭转振动、滑移、角速度测量 非接触式测量
- 纠偏导正架,纠偏导正系统,纠偏导正系统的纠偏控制,光电纠偏系统导正架纠偏系统,张力自动控制系统
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在校准时,即使是极小的错误也可能引起损坏,而识别这些错误则需要高昂的成本和复杂的过程。为此,SICK 开发出了微型光电传感器 W2S-2。所述光电传感器在校准时具有极高的精度,却全无基...
2021-09-21
半导体芯片成品在发货前须进行最后检查,检查要求进行严苛的老化测试。在此对半导体芯片的功能性和机械完整性、触点质量及其球栅阵列 (BGA) 共面性进行测试。3D 视觉传感器 Ranger3 以每秒...
2021-09-21
在取放时处理极其薄的组件。在此,磁性气缸传感器 MPS 以 50 µm 的分辨率和卓越的可重复性可靠、经济而高度灵活地处理所述组件。...
2021-09-21
腐蚀性化学品液位测量对传感器要求极高。须避免停机。包裹 PTFE 的超声波液位传感器 UP56 Pure 结构坚固,使用寿命长。传感器同时具有符合工业标准的模拟和数字输出,使得集成极为便利。...
2021-09-21
基于基于图像的读码器 Lector62x 可以根据贴在晶片载体上的一维或二维代码识别晶片。Lector62x 中集成的激光瞄准、自动对焦、自动设置和绿色的反馈 LED 使其极具用户友好性。...
2021-09-21
两台激光漫反射式光电传感器 WT12L-2 可检测晶片边缘(通常为 C 形)并由此检测晶片盒中半导体晶片的位置正确与否。从而防止机器人抓手损害晶片。由此避免了材料流失和复杂的维护作业。...
2021-09-21
在半导体晶片上的微结构中制造电子线路是一项复杂的流程。为了确保电路满足既定要求 — 轨道坚固 — 并具有分层结构 — 而同时减少材料流失,必须对层厚度进行测量。由于层叠具有 µm 级...
2021-09-21
在芯片接合机中,将晶片断片或矩形薄片粘贴到引线框架上。若粘合剂在引线框架上定位不准确,则半导体芯片不可用。因此须在放置芯片前识别出错误的粘合位置。通过二维视觉传感器 Insp...
2021-09-21
在加工晶片时,精确对准基板十分重要。2D 视觉传感器 Inspector 可精确识别晶片的缺口位置,确保其正确对准。同时,散射器部件可消隐晶片反射干扰。另外,使用质量管理系统 Label Checker 还可...
2021-09-21
微型光电传感器 W4-3 Teflon 根据外壳防护等级分级属于 IP69K,因此适用于化学环境。由于 SICK 的传感器方案故障平均时间间隔长,即使是在要求极高的应用条件下也能胜任。...
2021-09-21