24小时全国服务热线: 133 6051 0512

品质保证 I 现货物流 I 价格最优

中文 | English
当前位置:首页>>产品中心

FEINMETALL

目录:产品中心发布时间:2023-07-31 14:22:59点击率:238

接触式探头:
适合您应用的精度

凭借丰富的经验和以客户为导向的解决方案,我们随时为您服务。




信息通信技术/FCT探头

种类繁多:适用于所有常见螺距的接触式探头和适用于困难条件的创新技术。

更多

线束探头

用于测试模块结构的实用触点:用于连接器测试的螺纹探头、步进探头和回推探头。

更多

开关探头

位置检测的智能解决方案:具有内置开关功能的接触式探头种类繁多,还具有多个开关点。

更多

弹簧连接器

完美的解决方案:在产品中实现低磨损、可拆卸的电触点。

更多

大电流探头

灵活可靠:用于在有限空间内安全传输大电流、电池测试和电动汽车的智能解决方案。

更多

开尔文探头

在最小空间内进行四极测量:以内导体作为检测引脚的同轴接触式探头,从最小间距到最高电流。

更多

射频探头

接触所有常见的射频连接器:频率高达 20 GHz,采用智能设计,可实现最高可靠性和易于安装。

更多

细间距探头

在可能的极限下:可靠的接触式探头,适用于最精细的结构和低至40μm间距的半导体触点。

更多



探针卡

如今,FEINMETALL在用于接触半导体的探针卡
技术
方面处于领先地位



ViProbe 探针卡®

ViProbe®适用于广泛的应用,是一种经过验证的屈曲梁技术,已有25年以上的历史,其价值首先在于其独特的易于修复性。


ViProbe II 探针卡®

新版本的垂直接触技术注重延长使用寿命和其他优点。


Li探针卡®

带有薄片接触元件的探针卡,特别适用于设计种类繁多的射频应用。


费恩探针卡®

接触 WLCSP、SiP 或倒装芯片晶圆需要能够承受高电流同时确保高信号完整性的探针卡。FeinProbe®完美地解决了这些应用。


Flaig + Hommel

FEIN

本文Tags标签:
'); })();