半导体晶片上的刻痕检测_HY AUTOMATION-深圳宏愿自动化控制有限公司（官网）

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半导体晶片上的刻痕检测

目录：New发布时间：2021-09-21 23:06:32点击率：296

在加工晶片时，精确对准基板十分重要。2D 视觉传感器 Inspector 可精确识别晶片的缺口位置，确保其正确对准。同时，散射器部件可消隐晶片反射干扰。另外，使用质量管理系统 Label Checker 还可以采集晶片上所附的条码和文本。

以下产品系列可以使用

Label Checker

Inspector

没有了！

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