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半导体晶片上的刻痕检测

目录：新闻资讯发布时间：2021-09-21 23:06:32点击率：941

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在加工晶片时，精确对准基板十分重要。2D 视觉传感器 Inspector 可精确识别晶片的缺口位置，确保其正确对准。同时，散射器部件可消隐晶片反射干扰。另外，使用质量管理系统 Label Checker 还可以采集晶片上所附的条码和文本。



以下产品系列可以使用
Label Checker
Label Checker

Inspector
Inspector

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