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调整聚焦的高度测量

目录：新闻资讯发布时间：2021-09-21 21:28:40点击率：870

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生产半导体或显示屏的过程中，高精度检查和激光系统需要高度精确的聚焦光学系统。短程距离传感器 OD5000 可以测量每秒至 80,000 次基座的微米精度高度轮廓。这些数据可以控制聚焦位置，从而得出最佳处理结果。

在加载和卸载机上定位托盘

INFICON真空计

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